1995年，康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化，该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持，1996年6月进行了1.3版的修正，正式更名为S.M.A.R.T.（Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology），全称就是“自我检测分析与报告技术”，成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。
作为行业规范，SMART规定了硬盘制造厂商应遵循的标准，满足SMART标准的条件主要包括： 1）在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定； 2）在特定系统平台下，能够正常使用SMART；通过BIOS检测，能够识别设备是否支持SMART并可显示相关信息，而且能辨别有效和失效的SMART信息； 3）允许用户自由开启和关闭SMART功能； 4）在用户使用过程中，能提供SMART的各项有效信息，确定设备的工作状态，并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘及操作系统都支持SMART技术并且开启的情况下，若硬盘状态不良，SMART技术能够在屏幕上显示英文警告信息：“WARNING：IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE，A FAILURE MAY BE IMMINENT．”(警告：立刻备份你的数据并更换硬盘，硬盘可能失效。) SMART功能不断从硬盘上的各个传感器收集信息，并把信息保存在硬盘的系统保留区(service area)内，这个区域一般位于硬盘0物理面的最前面几十个物理磁道，由厂商写入相关的内部管理程序。这里除了SMART信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。用户使用的监测软件通过名为“SMART Return Status”的命令（命令代码为：B0h）对SMART信息进行读取，且不允许最终用户对信息进行修改。
二、SMART的ID代码
硬盘SMART检测的ID代码以两位十六进制数表示（括号里对应的是十进制数）硬盘的各项检测参数。目前，各硬盘制造商的绝大部分SMART ID代码所代表的参数含义是一致的，但厂商也可以根据需要使用不同的ID代码，或者根据检测项目的多少增减ID代码。一般来说，以下这些检测项是必需的： 01（001） 底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate 04（004） 启动/停止计数 Start/Stop Count 05（005） 重映射扇区数 Relocated Sector Count 09（009） 通电时间累计 Power-On Time Count (POH) 0A（010） 主轴起旋重试次数（即硬盘主轴电机启动重试次数） Spin up Retry Count 0B（011） 磁盘校准重试次数 Calibration Retry Count 0C（012） 磁盘通电次数 Power Cycle Count
C2（194） 温度 Temperature C7（199） ULTRA DMA奇偶校验错误率 ULTRA ATA CRC Error Rate C8（200） 写错误率 Write Error Rate
